离子迁移测试系统

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加速温湿度及偏压测试方案(THB测试)

发布日期:2021-09-14 08:00
信息摘要:
THB:Temperature-Humidity-Bias头字母的缩写。 测试目的:评估在高温、高湿、偏压条件下对湿气的抵抗能力,加速其失效进程。 测试条件:85℃,85%RH,偏压(根据样品要求决定),1000 h 失效机制:电解腐蚀 参考标准:美军标,国标,JEDEC,IEC,AEC, 客户自定义等

测试目的:评估在高温、高湿、偏压条件下对湿气的抵抗能力,加速其失效进程。
测试条件:85℃,85%RH,偏压(根据样品要求决定),1000 h
失效机制:电解腐蚀
参考标准:美军标,国标,JEDEC,IEC,AEC, 客户自定义等
 
该方案是由高温高湿箱配合绝缘电阻测试系统(离子迁移测试系统)完成,是指被测样品在高温高湿箱内做在线绝缘阻值监测,以判定在高温高湿环境下,被测样品是否发生离子迁移/CAF现象,从而确定被测样品的可靠性是否达到标准。
根据高温高湿箱内尺寸的大小,可支持64通道,128通道等测试。若要求256通道甚至更多通道,最多可连接4台高温高湿箱使用。
在高温高湿偏压条件下,使得被测样品发生失效缺陷(绝绝电阻值下降或低于设定阈值),找出失效的原因,从而找到提高其可靠性的方案。
绝缘电阻测试系统(离子迁移测试系统)现有300V、500V、1000V三种测试电压和32CH、64CH、96CH、128CH、256CH常规通道数的绝缘电阻测试系统与高温高湿箱搭配。


 
绝缘电阻测试系统(例子迁移测试系统)技术指标:

测试电压300/500/1000V
通道数32/64/96/128/256CH
电阻测量范围1*106—1*1013Ω
电阻测量精度1*106—1*1010Ω≤±5.0%(测试电压5V)
1*1010—1*1011Ω≤±10.0%(测试电压5V)
1*1011—1*1012Ω≤±15.0%(测试电压50V)
1*1012—1*1013Ω≤±30.0%(测试电压100V)
实时电流监测范围0.1μA—500μA
实时电流检测速度10次/秒

参考标准:IPC-TM-650 (2.6.3.7) ; IPC-TM-650 (2.6.14.1) 


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