分立器件主要有以下几个方面：

二极管（整流/开关/限幅/稳压/肖特基/功率等）

晶体管（GTR/MOSFET/IGBT)

晶闸管(SCR/GTO/LTT)

延升应用行业：

宽禁带半导体（GaN/SiC）、电力电子和功率器件、电源和电能变换器、工业/光伏/储能逆变器、变频器、新能源汽车电源（DC-DC/OBC/电驱等）、射频开关和混频器、显示、磁芯激励、轨道牵引

针对分立器件的应用测试，主要有静态测试（IV,CV)，动态特性（开关损耗、导通损耗），热阻测试（Rja）

可靠性测试，有以下几个试验：

    高低温（环境试验箱）

    振动（振动台）

    快速温变（ThermoStream）

    加速老化测试（Halt，Hass）

    应力测试（温度，电流应力）

失效分析，主要有

    IV，CV测试（SMU，4200A）

    内部缺陷（X-Ray，工业CT）

    超声波扫描仪（SAM）

    扫描电镜（SEM）

    开盖机Decap（酸&激光）

    探针台（Probe Station）

    微光显微镜（EMMI）

    静电栓锁测试机（ESD-HPPI）

    聚焦离子束显微镜（FIB）

    红外显微镜（NIR）

    离子刻蚀机（IRE）

针对以上几个测试分析，我公司提供综合的测试应用解决方案，提供一站式的技术支持与服务。